| Ordnungszahl |
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14 |
| Symbol |
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Si |
| relative Atommasse |
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28,0855 |
| Dichte [g/cm3] |
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2,33 |
| Schmelzpunkt [°C] |
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1410 |
| Siedepunkt [°C] |
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2477 |
| erste Ionisierungsenergie [eV] |
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8,151 |
| Elektronenkonfiguration |
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[Ne] 3s2 3p2 |
| Oxidationszahl (stabilste) |
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4,
4- |
| Atomradius [pm] |
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117 |
| Ionenradius [pm] |
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40 (4+) |
| Häufigkeit in der Erdkruste [ppm] |
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272000 |
| Herkunft des Namens |
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(lat.)
silex = Kieselstein |
| Entdeckung |
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1822 durch J. J. Berzelius |
| Verwendung |
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reines Silicium als Ausgangsstoff in der
Halbleitertechnik, Siliciumdioxid als Rohstoff für die Glasherstellung. |
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