Home Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Wirkungsweise von Form- und Kernschlichten

Bild 12. Elementverteilungsbild Si K alpha von Bild 11
Bild 11 (links). Anschliff eines geschlichteten, furanharz-gebundenen Formstoffes nach dem Abgießen (Ausschnitt aus Bild 10), REM-Aufnahme (Sekundärelektronen), Vergr. 240x, Bild 12 (rechts). Elementverteilungbild  SiKa  von Bild 11.

© 2004 Büro für angewandte Mineralogie · Dr. Stephan Rudolph · D-47918 Tönisvorst
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