Home Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Wirkungsweise von Form- und Kernschlichten

Bild 19. Elementverteilungsbild Si K alpha von Bild 18
Bild 18 (links). REM-Aufnahme (Rückstreuelektronen) eines Übergangbereichs Gußstück-Schlichte bei Verwendung einer Flußmittel enthaltenden Schlichte nach dem Abgießen, Vergr. 800x
Bild 19 (rechts). Elementverteilungsbild SiKa von Bild 18

© 2004 Büro für angewandte Mineralogie · Dr. Stephan Rudolph · D-47918 Tönisvorst
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