Home Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Wirkungsweise von Form- und Kernschlichten

Bild 21. REM-Aufnahme eines Überganges Gußstück-Schlichte, 2400-fach
Bild 21. REM-Aufnahme (Sekundärelektronen) eines Übergangbereichs Gußstück-Schlichte nach dem Abgießen, (Ausschnitt aus Bild 20), Vergr. etwa 2400x

© 2004 Büro für angewandte Mineralogie · Dr. Stephan Rudolph · D-47918 Tönisvorst
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