Home Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Wirkungsweise von Form- und Kernschlichten

Bild 7. Anschliff eines geschlichteten Coldbox-Formstoffes, 80-fach
Bild 7. Anschliff eines geschlichteten Coldbox-Formstoffes, REM-Aufnahme (Sekundärelektronen), Vergr. 80x

© 2004 Büro für angewandte Mineralogie · Dr. Stephan Rudolph · D-47918 Tönisvorst
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